项目简介:
2025年08月,深圳EUTTEST为上海客户提供手动测试版本的HT9464M数字隔离器认证测试系统。这标志着国内对于数字隔离器认证测试的需求越来越强烈,也代表着国内开始重视和研发新型的光耦替代产品-数字隔离器。我们在征得客户同意后拍摄了部分照片,并为客户编写了这一份” 使用HT9464M测试数字隔离器的局部放电和隔离电压”的说明文件,本文件详细介绍了从放置测试样品到获得测试结果的操作方法和说明,为客户使用 HT 9464M 提供后期指导服务。
基于用户保密制度,本项目将不透露具体用户信息,只展示整个测试培训流程的相关图片和说明。
版本说明:
本示例说明适用于高压测试机HT 9464M、HT 9464,也适合准备开展数字隔离器产品研发的专业技术人员研读使用。
本示例适用于手动版本测试说明,当您购买的是包含分选机的自动化版本,请YH533388银河获得额外的分选机操作介绍,因为增加了分选机后,测试主机需要与分选机通信和协调工作,所以自动化版本的测试主机介绍与本文档略有不同。
我司可为客户使用普通话或英语培训。
测试样品:
本次客户提供了以下四种封装的数字隔离器样品芯片。
- SOIC-16 (300mil) – 5个
- SOIC-8 (300mil) – 4个
- SOP-16 (150mil) – 5个
- SOP-16 (150mil) – 5个
样品测试流程:
放置样品:
EUTTEST引导客户放置被测样品-数字隔离器到HT9464M的测试盒上,测试盒内置了EUTTEST为客户定制的芯片封装测试夹具,只需要放置夹具完成后盖上盖板即可。

放置被测样品-数字隔离器到HT9464M的测试盒上
修改HT9464M测试配置:
根据下图所示的VDE 0884-17测试波形要求

VDE 0884-17 对隔离电压和局部放电的测试波形要求
再结合客户要求的HV和PD限值,我们需要在设备前面板上定义以下参数设定:
- HV 测试电压:6840V;最小检测泄露电流:2.4μA
- PD 测试电压:1880V;最小检测PD电荷量:0.1pC

为数字隔离器样品设置HV和PD限值
使用我司赠送的外接键盘可以快速输入各种数字及英文字符到设备上位机软件中;

HT9464M 可以使用键盘输入
开始测试:
当参数设置完成,样品也安装完成后,即可按下 “START” 按钮开始完成T1(隔离电压)和T2(局部放电)测试

HT9464M开始T1和T2测试
测试结果:
当测试完成并使用软件开具测试报告,我们就可以从测试报告中看出每个芯片执行T1和T2测试后的结果是”PASS”还是”FAIL”。

测试报告
其中一个使用SOIC-16封装的样品芯片通过了HV(6840V)和PD(0.1Pc)的测试要求,如下图所示:

SOIC-16封装的样品芯片通过了测试
而另外一个同样封装的样品芯片却没有通过T1的HV测试,对比上下两个图片,您可以看到HT9464M支持Ramp爬坡模式,简单的说就是HV从0一直增加到6840V,如果中途电压发生了泄露,将会产生泄露电流,我们也能看到敏感的电压值,这和EMC中查找抗扰度电压的敏感值相似。而我们这个样品的测试结果就显示了泄露电流在HV增加到1.3kV时突然雪崩增大,这说明这个样品根本无法通过HV-6840V的认证测试要求。

没有通过HV测试的样品芯片
以上就是完整的数字隔离器样品隔离电压和局部放电认证测试流程。
培训总结:
自此HT9464M培训完成,客户方也能获得以下专业技能:
- 客户可以独自正常使用HT9464M执行完整的测试流程
- 客户可以独自更换不同封装的样品执行测试流程
- 为客户普及”Ramp”爬坡模式对于数字隔离器研发设计的重要性。
- 客户可提出新的芯片封装
- 客户未来可将HT9464M安装到EUTTEST提供的芯片分选机上使用
局部放电试验的目的和意义
DIN V VDE V 0884-11 (VDE V 0884-11): 2017-01 认证测试项目简介